Degradación óptica de películas delgadas semiconductoras nanoestructuradas.

Loading...
Thumbnail Image

Date

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Universidad de Quintana Roo

Abstract

En este trabajo se presenta la tasa de degradación óptica de películas delgadas semiconductoras (PDS) de sulfuro de cobre (CuS) expuestas a un periodo de envejecimiento bajo dos condiciones; en ambiente y en bolsas de sello hermético con desecante en su interior.

Description

Citation

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By