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dc.contributor.authorSANCHEZ POOL, GIANY PATRICIA
dc.date.accessioned2018-05-24T19:00:10Z
dc.date.available2018-05-24T19:00:10Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12249/665
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta la tasa de degradación óptica de películas delgadas semiconductoras (PDS) de sulfuro de cobre (CuS) expuestas a un periodo de envejecimiento bajo dos condiciones; en ambiente y en bolsas de sello hermético con desecante en su interior.
dc.description.provenanceSubmitted by Josafat Díaz Fernández (1416648@uqroo.mx) on 2018-05-18T17:46:43Z No. of bitstreams: 1 TP155.S26.2009-59593.pdf: 50748716 bytes, checksum: d9900a32858b03d0ac26a793097b595c (MD5)
dc.description.provenanceApproved for entry into archive by Yeni Martin Cahum (yenimartin@uqroo.edu.mx) on 2018-05-24T19:00:10Z (GMT) No. of bitstreams: 1 TP155.S26.2009-59593.pdf: 50748716 bytes, checksum: d9900a32858b03d0ac26a793097b595c (MD5)
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2018-05-24T19:00:10Z (GMT). No. of bitstreams: 1 TP155.S26.2009-59593.pdf: 50748716 bytes, checksum: d9900a32858b03d0ac26a793097b595c (MD5) Previous issue date: 2009
dc.formatpdf
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad de Quintana Roo
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectDegradación química
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍA::CIENCIAS TECNOLÓGICAS::INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA DEL MEDIO AMBIENTE
dc.subject.lccTP155
dc.titleDegradación óptica de películas delgadas semiconductoras nanoestructuradas.
dc.typeTesis de licenciatura
dc.description.enky832
dc.rights.accesopenAccess
dc.identificator7||33||3308
dc.audiencegeneralPublic


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